光耦的老化变化数据
下载“第Ⅴ章：光半导体” (PDF:1.8MB)
光耦的老化变化数据
发光元件（LED）的光输出会随时间的推移而减弱。在光耦中，LED光输出的老化变化比受光器件的老化变化更为明显。因此，设计人员需要利用所采用的光耦的老化变化数据来估计发光等级的降低趋势。设计人员将根据使用设备的使用环境和LED的总工作时间来计算LED的光输出变化。必须将该值反映在LED正向电流（IF）的初始值中。
*例如，当占空比（发光持续时间）为50%，工作时间为1000小时，则计算总运行时间为500小时。
左图显示了LED光输出老化变化数据。
右图显示了LED光输出低于某一标准时的运行时间。
例如，左图中的A点和右图中的B点显示了相同条件下的老化变化。（IF＝50mA，Ta＝40℃，8000小时）
第Ⅴ章：隔离器／固态继电器
光半导体的类型
LED的发光原理
LED的波长范围
什么是光耦？
为什么需要光耦？
光耦的类型
光耦的类型（封装）
光耦的类型（内部结构）
光耦的安全标准
光耦的特性（电流传输比：CTR）
光耦的主要特性（触发LED电流）
如何使用光耦
如何使用光耦“输入电流”
如何使用光耦“输出电流”
如何使用光耦“输出侧电阻器”
如何使用光耦检查
相关信息
在新窗口打开