光耦需要满足哪些安全标准？

当光耦作为“隔离”手段安装在设备中以确保安全（例如，防止人体遭电击）时，光耦可能会受到安全标准的限制。包括用于确保安全的标准和准则在内，与电力相关的各类项目均已标准化。安全标准分为适用于最终产品的设备标准以及适用于单个光耦的元器件标准。

每个国家都有基于国际电工委员会（IEC）标准制定的自有安全标准。典型的标准包括美国的UL标准、德国的VDE标准和英国的BSI标准。适用于光耦的美国UL标准和德国VDE标准对测量输入-输出绝缘性能的测试方法和验收标准有完全不同的定义。

• UL：该测试使用介电强度测试法，通过施加高压时是否发生介电击穿来判断绝缘性能。
• VDE：该测试使用局部放电测试法，通过检查局部电晕放电产生的电荷是否不超过5pC来判断绝缘性能。

有关详情，另见东芝应用说明《Safety Standards for Photocouplers》第1至3章。
（https://toshiba.semicon-storage.com/cn/semiconductor/knowledge/application-note.html）