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半導体デバイスの信頼性

このページは、半導体製品の信頼性情報について説明しています。

[2016年4月現在]

半導体デバイスの信頼性

信頼性の考え方、信頼性に影響を与える因子について説明します。

故障メカニズム

半導体デバイスにおける種々の故障について、その故障メカニズムを、デバイスと組み立て技術の両面から説明します。

信頼性試験

高い信頼性の確保のため欠くことのできない信頼性試験について説明します。

故障率の予測

半導体デバイスの故障率推定方法の一つである、部品ストレス解析予測法について記載します。

故障解析

故障解析に用いられる装置と手順について説明し、代表的な手法の事例を紹介します。

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·設計および使用に際しては、本製品に関する最新の情報および本製品が使用される機器の取扱説明書などをご確認の上、これに従ってください。