2023年9月14日
東芝電子元件及儲存裝置株式會社
川崎—東芝電子元件及儲存裝置株式會社(“Toshiba”)擴大了其「TCTH0xxxE系列」Thermoflagger™溫度過高偵測IC的產品陣容,該器件可用於具有正溫度係數(PTC)熱敏電阻的簡單電路,以偵測電子裝置的溫度上升。六種新產品即日起開始出貨。
為了使電子裝置按規定運行,半導體和其他電子器件必須在設計參數內運行。內部溫度是關鍵參數,特別是當該參數高於設計過程中的假定溫度時;這可能是重大的安全性和可靠性問題,並且需要溫度過高監測解決方案來偵測任何溫度上升。
在使用PTC熱敏電阻(其電阻值隨溫度變化)的簡單電路中設定Thermoflagger™溫度過高偵測IC後,可偵測溫度上升。這些IC還可以偵測放置在熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化,並在溫度過高時輸出FLAG信號。例如,當Thermoflagger™偵測到異常發熱並向MCU發送FLAG時,MCU將關閉裝置或更改產生熱量的裝置或半導體的操作。串聯PTC熱敏電阻可實現多點溫度過高偵測。
這六款新產品是TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。這些新產品加上已推出的TCTH021BE和TCTH022BE,使TCTH0xxxE 系列產品陣容達到八種。新產品支援兩種類型的PTC輸出電流[1],擴大了PTC熱敏電阻的選擇範圍。可以選擇推挽或開漏FLAG信號輸出類型[2],也可以選擇使用或不使用FLAG信號閉鎖功能[3]。擴大產品選擇範圍可實現低電流消耗的靈活電路設計。
新產品採用小型、符合產業標準的SOT-553封裝(Toshiba封裝名稱:ESV),確保TCTH0xxxE系列能為成套電子裝置輕易配置溫度過高偵測功能,並有助於縮減尺寸和功耗消耗。
除了已經發佈的參考設計:Thermoflagger™溫度過高偵測IC應用電路(TCTH021BE/開漏版本)之外,Toshiba今天還在公司網站上提供了新的參考設計:Thermoflagger™溫度過高偵測IC應用電路(TCTH021AE /推挽版本)。
Toshiba使用Murata Manufacturing Co., Ltd.提供的有關PTC熱敏電阻的科技資訊來實現溫度過高偵測解決方案。Murata建議將Thermoflagger™與PTC熱敏電阻一起使用。
Murata的推薦IC一覽
Murata的PTC熱敏電阻
Toshiba將繼續透過各種封裝和改進的裝置特性來擴張其產品線,為設計靈活性和碳中和做出貢獻。
注釋:
[1] PTCO輸出電流:溫度過高偵測IC向PTC熱敏電阻提供的恒定電流。
[2] 溫度過高偵測IC偵測到錯誤時,會輸出FLAG信號。推挽式由兩個垂直堆疊的MOSFET組成。輸出電流沿任一方向流入和流出。漏極開路型由1個MOSFET構成。輸出電流僅沿一個方向流動。
[3] FLAG信號閉鎖功能在溫度過高偵測IC偵測到錯誤後保持FLAG信號,即使偵測到一次錯誤也是如此。溫度過高偵測IC不自行恢復,而是透過從MCU等向RESET引腳輸入信號來恢復。
(除非另有說明,Tj=25°C)
器件型號 | 封裝 | 工作範圍 | 電氣特性 | 信號 輸出 (PTCGOOD) |
信號 閉鎖 功能 (偵測 到 異常 狀態 時) |
樣品 檢查與 供應情況 |
|||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
名稱 | 尺寸 (mm) | 電源 電壓 VDD (V) |
工作 溫度 Topr (°C) |
PTCO 輸出 電流 IPTCO (μA) |
偵測 電壓 VDET (V) |
電流 消耗 IDD (μA) |
UVLO 電壓 VUVLO (V) | ||||
典型值 | 典型值 | 典型值 | 典型值 | 典型值 | |||||||
TCTH011AE | SOT-553 (ESV) |
1.6×1.6, t=0.55 | 1.7 to 5.5 | -40 至 125 | 1.00 | 0.50 | 1.8 | 1.5 | 推挽 式 |
否 | |
TCTH012AE | 是 | ||||||||||
TCTH021AE | 10.0 | 11.3 | 否 | ||||||||
TCTH022AE | 是 | ||||||||||
TCTH011BE | 1.00 | 1.8 | 開漏 式 |
否 | |||||||
TCTH012BE | 是 | ||||||||||
TCTH021BE[4] | 10.0 | 11.3 | 否 | ||||||||
TCTH022BE[4] | 是 |
[4] 之前推出的產品
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小型信號器件銷售與行銷部
電話: +81-44-548-2215
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