過溫檢測IC Thermoflagger TM 的應用電路

該參考設計提供了過溫檢測IC Thermoflagger TM 應用電路的設計指南、數據和其他內容，該應用電路可以使用PTC熱敏電阻檢測設備內多個位置的過溫。

PCB Photo (example)
TCTH021BE TCTH021BE SSM3K35MFV SSM3K35MFV SSM3J35AMFV SSM3J35AMFV

Click on components for more details

特性

  • 簡單的過溫檢測解決方案
  • 外形尺寸： 85mm×54mm
  • 可以與多個PTC熱敏電阻結合使用

說明

電路拓撲 過溫檢測IC Thermoflagger TM 的應用電路
電路 PTC熱敏電阻

設計文件

供設計人員使用的材料，例如電路操作概述和設計注意事項的解釋。請點擊每個選項以查看內容。

設計數據

提供可載入到EDA工具中的電路資料、PCB佈局資料以及PCB製造中使用的資料。來自多個工具供應商的可用格式。您可以使用喜歡的工具來自由的編輯它。

使用東芝項目/產品

器件型號 器件目錄 使用部位・數量 說明
過溫檢測IC 檢測IC 10 μA, 漏極開路，過溫檢測IC
小信號MOSFET 低壓側開關 (下臂) N通道 MOSFET, 20 V, 0.18 A, 3.0 Ω@4V, SOT-723(VESM)
小信號MOSFET 高壓側開關 (上臂) P通道 MOSFET, -20 V, -0.25 A, 1.4 Ω@4.5V, SOT-723(VESM)

相關文件

我們提供有助於設計和考慮類似電路的材料，例如已安裝產品的應用說明。請點擊每個選項以查看內容。

相關參考設計

Over Temperature Detection IC Thermoflagger™ Application Circuit (TCTH021AE / Push-pull type)

應用

Solid State Drive
Such as low power consumption and miniaturization are important in designing solid state drive (SSD). Toshiba provides information on a wide range of semiconductor products suitable for power supply/power supply management units, surge/ESD protection circuit units, over temperature monitoring unit, etc., along with circuit configuration examples.
詳細資料
Tablet Device
Such as low power consumption and miniaturization are important in designing tablet device. Toshiba provides information on a wide range of semiconductor products suitable for power supply management units, sensor signal input units, display units, over temperature monitoring unit, etc., along with circuit configuration examples.
詳細資料
Server
Such as low power consumption and miniaturization are important in designing server. Toshiba provides information on a wide range of semiconductor products suitable for power supply units, motor driving unit, over temperature monitoring unit, etc., along with circuit configuration examples.
詳細資料

聯繫我們

技術方面問題

聯絡我們

聯絡我們

常見問題

常見問答
開啟新視窗