過溫檢測IC Thermoflagger TM 的應用電路

該參考設計提供了過溫檢測IC Thermoflagger TM 應用電路的設計指南、數據和其他內容，該應用電路可以使用PTC熱敏電阻檢測設備內多個位置的過溫。

PCB Photo (example)
TCTH021BE TCTH021BE SSM3K35MFV SSM3K35MFV SSM3J35AMFV SSM3J35AMFV

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特性

  • 簡單的過溫檢測解決方案
  • 外形尺寸： 85mm×54mm
  • 可以與多個PTC熱敏電阻結合使用

說明

電路拓撲 過溫檢測IC Thermoflagger TM 的應用電路
電路 PTC熱敏電阻

設計文件

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設計數據

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使用東芝項目/產品

器件型號 器件目錄 使用部位・數量 說明
過溫檢測IC 檢測IC 10 μA, 漏極開路，過溫檢測IC
小信號MOSFET 低壓側開關 (下臂) N通道 MOSFET, 20 V, 0.18 A, 3.0 Ω@4V, SOT-723(VESM)
小信號MOSFET 高壓側開關 (上臂) P通道 MOSFET, -20 V, -0.25 A, 1.4 Ω@4.5V, SOT-723(VESM)

相關文件

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相關參考設計

Over Temperature Detection IC Thermoflagger™ Application Circuit (TCTH021AE / Push-pull type)

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Such as low power consumption and miniaturization are important in designing server. Toshiba provides information on a wide range of semiconductor products suitable for power supply units, motor driving unit, over temperature monitoring unit, etc., along with circuit configuration examples.
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Solid State Drive
Such as low power consumption and miniaturization are important in designing solid state drive (SSD). Toshiba provides information on a wide range of semiconductor products suitable for power supply/power supply management units, surge/ESD protection circuit units, over temperature monitoring unit, etc., along with circuit configuration examples.
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