2025年2月20日
東芝デバイス&ストレージ株式会社
当社は、半導体テスター向けにターンオン時間を当社既存製品[注1]より高速にしたS-VSON4T[注2]パッケージのフォトリレー「TLP3414S」と「TLP3431S」を製品化しました。新製品の阻止電圧定格とオン電流定格は、TLP3414Sが40V/250mA、TLP3431Sが20V/450mAです。本日から出荷を開始します。
新製品は、入力側の赤外発光ダイオードの光出力向上と、受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により、光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大150μsに短縮し、高速化を実現しました。TLP3414Sは当社既存製品TLP3414と比べて最大ターンオン時間を約50%、TLP3431Sは当社既存製品TLP3431と比べて約62%短縮しています。
また、出力オン時の信号減衰に影響するオン抵抗 (TLP3414S: 最大値3Ω、TLP3431S: 最大値1.2Ω) と、出力オフ時の高周波信号漏れに影響する端子間容量 (出力側) (TLP3414S、TLP3431Sともに標準値6.5pF) は当社既存製品[注1]と同等で、安定した信号伝達が可能です。
新製品は、テスト対象デバイス (DUT[注3]) を高速に信号切替えしながら精度よく計測する、半導体テスターのピンエレクトロニクス[注4]などに適しています。
パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、当社既存製品のVSON4パッケージ[注5]と比べて、実装面積を約20%削減しています。これにより、半導体テスターなどの小型化に貢献します。
今後も当社は、半導体テスターの高性能化・高速化に対応した製品を提供していきます。
[注1] VSON4パッケージの当社既存製品TLP3414 (定格40V/250mA)、TLP3431 (定格20V/450mA)
[注2] S-VSON4Tパッケージ: 1.45×2.0mm (typ.)
[注3] Device Under Test (DUT)
[注4] ピンエレクトロニクス (PE): DUTへの電源やテスト信号の供給、およびDUTからの出力信号判定を行うインターフェース回路。
[注5] VSON4パッケージ: 1.45×2.45mm (typ.)
(Ta=25°C)
品番 | TLP3414S | TLP3431S | ||
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パッケージ | 当社名称 | S-VSON4T | ||
サイズ (mm) | 1.45×2.0 (typ.)、t=1.3 (typ.) | |||
接点方式 | 1a (ノーマリーオープン) |
|||
絶対最大定格 | 阻止電圧 VOFF (V) | 40 | 20 | |
オン電流 ION (mA) | 250 | 450 | ||
オン電流 (パルス) IONP (mA) | 750 | 1350 | ||
動作温度 Topr (°C) | -40~110 | |||
絶縁耐圧 BVS (Vrms) | AC、60s、 R.H.≦60% |
500 | ||
結合特性 | トリガーLED電流 IFT (mA) | Max | 3 | |
オン抵抗 RON (Ω) | Typ. | 2 | 0.8 | |
Max | 3 | 1.2 | ||
電気的特性 | 端子間容量 (出力側) COFF (pF) | Typ. | 6.5 | |
スイッチング特性 | ターンオン時間 tON (μs) | Max | 150[注6] | |
ターンオフ時間 tOFF (μs) | 100[注6] | |||
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[注6] 測定条件: TLP3414SはRL=200Ω、VDD=20V、IF=5mA、TLP3431SはRL=200Ω、VDD=10V、IF=5mA
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