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JTAGバウンダリースキャン

JTAGバウンダリスキャン

JTAG (Joint Test Action Group) は半導体製品のテスト方法を決める組織の名称ですが、その組織が標準化したテスト機能も同じようにJTAGと呼ばれています。
JTAGバウンダリースキャン機能は、半導体製品のピンがプリント板に正しく接続されているかどうかをチェックするためのテスト機能です。半導体製品 の各信号ピンの情報を、それぞれのピンに対応したテスト・レジスターに蓄えておきます。これらのテスト・レジスターは数珠繋ぎにしてあり、テスト・クロックに 同期して必要なピン情報を特定のピンに取り出すことができます。また、同じテスト・レジスターに任意のデータを書き込むこともできます。このようにして、各 ピンとプリント板の接続をチェックします。

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Microcontrollers products incorporating a JTAG are displayed.

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