具有低壓驅動和高溫工作額定值的小型化光繼電器
東芝推出TLP3412SRLA ，這是一種用於半導體測試儀器的低壓驅動光繼電器。
半導體測試器（ ATE：自動測試設備）透過向系統LSI或半導體記憶體等DUT的指定接腳施加電壓/電流來驗證DUT（被測設備）是否正常運作。許多具有 MOSFET 輸出的光繼電器（一種固態繼電器）用於切換 DUT 指定引腳的路徑。
光繼電器使用LED來開啟/關閉輸出側MOSFET，但該產品具有內建電阻器以啟用外部電壓驅動。工作電壓達1.6V，是東芝產品線中工作電壓最低的。 FPGA（現場可程式閘陣列）的使用電壓越來越低(目前1.8V) ，現在已可用來控制。
此外，在一種稱為探針（探針卡）的半導體測試系統的應用中，會在高溫下檢查半導體晶片的特性。在這種情況下，靠近 DUT 放置的光繼電器也會在高溫下使用。因此，光繼電器需要在高溫下工作。本產品的最高工作溫度額定值為125°C，有助於確保設備的溫度裕度。
ATE 必須在有限的時間內檢查更多的 DUT。這意味著單一 ATE 可以處理多個 DUT。一些 用於路徑切換的光繼電器也必須安裝在有限的區域內，具體取決於 DUT 和測量引腳的數量。因此，在ATE應用中，使用緊湊封裝的光繼電器是一個關鍵問題。採用東芝獨創的小封裝S-VSON4T可實現高密度安裝。
此外，由於其尺寸小且工作溫度高，因此它是一種半導體開關，可用於廣泛的應用，除了ATE應用之外，還包括PLC（可程式邏輯控制器）和其他工業設備。
產品特點
- 1.8 V 系統 FPGA 的低工作電壓
- 高工作溫度額定值可確保設備溫度裕度
- 用於高密度安裝的小型封裝 S-VSON4T
1. 1.8V系統FPGA工作電壓低
光繼電器的輸入側LED是電流驅動元件。因此，一般需要在LED端外接一個限流電阻。另一方面，從驅動側的角度來看，希望直接用電壓驅動元件。如圖2所示，LED側內建有電阻。這使得電壓控制操作無需外部電阻器的空間。透過FPGA或其他IC驅動也很容易。 FPGA的核心電壓也隨著處理的發展而降低。為了因應此趨勢，如圖3所示，該產品是東芝產品中電壓最低的驅動光繼電器。最大工作電壓V FON為1.6 V。這使得1.8 V系統FPGA的應用上已可使用。
2. 高工作溫度額定值，確保設備溫度裕度
探針台是半導體測試儀的一種，可以在高溫下測試DUT。這樣做時，光繼電器必須靠近高溫室放置，因此必須使用高溫操作的光繼電器。本產品最高工作溫度額定值為125°C，可在高溫探針等惡劣環境下使用。
3. 小封裝S-VSON4T，適合高密度安裝
如圖4所示，測試頭有兩大類：裝置電源（DPS）和接腳電子元件（PE）。 ATE 使用繼電器來切換電源和訊號，以同時測量多個DUT。雖然測試儀的高速處理等技術創新並不常見，但對於必須應對低成本和高可靠性的半導體測試儀來說，高密度測試板是不可避免的。傳統的機械繼電器無法滿足這些要求，半導體繼電器（光繼電器）取代了它們，因此在有限的電路板空間內安裝了許多光繼電器。新型 TLP3412SRLA 採用小型封裝 S-VSON4T（1.45 mm × 2.0 mm（典型值），t = 1.4 mm（最大值）），有助於提高安裝密度。
應用裝置
- 半導體測試儀（記憶體、系統LSI等）
- 探針卡
- 各種測量儀器
- 工業設備
* 它也適用於諸如PLC（可程式邏輯控制器）之類的在小框架上具有多個介面的應用。
新產品主要規格
（除非另有說明，Ta=25°C）
元件料號 |
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|---|---|---|---|---|
數據表 |
PDF: 368KB | |||
封裝 |
東芝封裝名稱 |
S-VSON4T | ||
尺寸（毫米） |
1.45 × 2.0 (典型值), t = 1.4 (最大值) |
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觸點類型 |
1a (常開) |
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絕對最大額定值 |
斷態輸出端電壓V VOFF (V) |
60 |
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通態電流 ION (mA) |
400 |
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通態電流（脈衝） IONP (mA) |
1200 |
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工作溫度 Topr (°C) |
-40 至 125 |
|||
耦合電氣特性 |
工作電壓 VFON (V) |
最大值 |
1.6 |
|
通態電阻 RON (Ω) |
典型值 |
1 |
||
最大值 |
1.5 |
|||
電氣特性 |
輸出電容（輸出側） COFF (pF) |
典型值 |
17 |
|
開關特性 |
開啟時間 tON (μs) |
RL = 200 Ω, VDD = 20 V, VIN = 1.8 V |
最大值 |
350 |
關斷時間tOFF ( μs ) |
150 |
|||
隔離特性 |
隔離電壓 BVS (Vrms) |
最小值 |
500 |
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庫存查詢及採購 |
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