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開發 / 設計支援
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東芝電子元件及儲存裝置株式會社(簡稱「東芝」)現已推出採用Super Junction結構的DTMOSVI 600V系列製程的N通道功率MOSFET「TK057V60Z1」。本產品適用於資料中心級伺服器、工業設備開關電源以及太陽逆變器等應用。
TK057V60Z1實現了0.047Ω(典型值) [1]汲源極間的導通電阻,創下東芝採用DFN8×8封裝的600V功率MOSFET的最低[2]紀錄。
此外,相較於東芝現有同電壓等級及封裝的產品TK31V60X,新產品的汲源極導通電阻降低約40%。同時保持相等的閘極電荷(通常與汲源極導通電阻存在權衡關係),而閘汲極電荷則降低約32%。降低了導通損耗和開關損耗,有助於提高電源電路的效率。
另外,採用小型貼片式DFN8x8封裝更有助於提高設備的功率密度。
東芝提供支援開關電源電路設計的工具。現在,除了可在短時間內驗證電路功能的G0 SPICE模型之外,還提供能夠精確實現瞬態特性的高精度G2 SPICE模型。東芝網站上提供的線上電路模擬器可協助使用者輕鬆驗證電路運行,而無需建立模擬環境和下載元件模型。
東芝將持續擴大其DTMOSVI系列產品線,以提高工業設備開關電源的效率,以實現碳中和。
註:
[1]測量條件:V GS =10V,I D =15A,T a =25°C
[2]東芝調查,截至2025年11月。
TK057V60Z1實現了0.047Ω(典型值) [1]的R DS(ON) ,創下東芝採用DFN8x8封裝的600V功率MOSFET的最低[2]紀錄。
有助於減少導通損耗,進而提高電源設備的效率。此外,相較於競爭對手的同類產品,其R DS(ON)降低約16% [3] 。
註:
[3]基於東芝實測條件
R DS(ON)測量條件:V GS =10V,I D =15A,T a =25°C
DTMOSVI 600V系列透過優化閘極設計和精進工藝,降低了Q g和Q gd ——這兩個參數是電源設備等開關應用中的關鍵特性。
有助於減少驅動損耗和開關損耗,進而提高電源設備的效率。
此外,與競爭對手的同類產品相比,東芝新產品的Q g降低約4%, Q gd更是降低約28% [4] 。
註:
[4]基於東芝實測條件
Q g和Q gd測量條件:V DD ≈400V,V GS =10V,I D =40A,T a =25°C
(除非另有定義,T a =25°C)
| 型號 | TK057V60Z1 | |||
|---|---|---|---|---|
| 絕對最大額定值 | 汲源極電壓 VDSS (V) | 600 | ||
| 汲極電流 (DC) ID (A) | 40 | |||
| Channel temperature Tch (°C) | 150 | |||
| 電氣特性 | 汲源極導通電阻 RDS(ON) (Ω) | VGS=10V, ID=15A |
典型值 | 0.047 |
| 最大值 | 0.057 | |||
| 閘極電荷(閘源極電荷與閘汲極電荷總和)Qg (nC) | VDD≈400V, VGS=10V, ID=40A |
典型值 | 65 | |
| 閘汲極電荷 Qgd (nC) | 15 | |||
| 輸入電容 Ciss (pF) | VDS=300V, VGS=0V, f=100kHz | 典型值 | 3680 | |
| 封裝 | 名稱 | DFN8×8 | ||
| 尺寸 (mm) | 典型值 | 8.0×8.0×0.85 | ||
| 庫存查詢與購買 | ![]() |
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