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SiC SBDのリーク電流は、Si SBDと比べておよそ1/10であり、熱暴走は起きにくくなっています。
従来のSi SBDでは、定格電圧の80%であってもリーク電流が比較的大きいものがあり、熱暴走の観点から使用しにくいものがありました。
東芝SiC SBDのリーク電流は、チップ材料(SiC)による仕事関数の違いと、チップデザイン(JBS構造 : Junction barrier Schottky構造)による最適化から、Si SBDと比べておよそ1/10となっています。
*:熱暴走とは
リーク電流は高温になるほど増加します。そのため、このときの損失(=リーク電流x印加電圧)による発熱が、パッケージを含めた素子の放熱性能を上回ってしまうと、内部チップ温度が上昇し、最終的には熱破壊を引き起こす現象のことを指します。