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当社の eFuse IC の過電流保護からの復帰動作には、2タイプの方式があります。
復帰動作には2タイプあり、システムの要求に沿うように選択してください。
以下の図は、TCKE8シリーズの動作例を示したものになります。詳細は、個別のデータシートをご確認ください。
オートリトライタイプ
eFuse IC に流れる電流が、過電流制限値 ILIM を超えると、内部の MOSFET に流れる電流を ILIM で制限します。
このとき、eFuse IC には、PD= (VIN - VOUT) × ILIM の損失が生じて、接合温度が上昇し、過熱保護動作へ移行してMOSFETをシャットダウンさせます。 MOSFETのシャットダウンにより、接合温度が低下すると、再びMOSFETがオンとなります。 この時点で過電流状態が解消されていないと、再び、ILIM で電流が制限された後、過熱保護動作を行います。(図1)
ラッチタイプ
オートリトライタイプと同様に、過電流状態となると MOSFET に流れる電流を ILIM で決定される電流値で制限後に、過熱保護へ移行して、MOSFET をシャットダウンします。 ラッチタイプでは、MOSFET がシャットダウンするとその状態を保持( ラッチ)します。ラッチ状態を解除するためには、過電流状態が解消された状態で、いったん、EN/ UVLO端子の電圧を“ L ”レベルにした後、再び、” H ”レベルにすることで MOSFET がオン状態となります。(図2)
以下の資料にも関連する説明がありますので、ご参照ください。
* このFAQ内で使用している社名・商品名・サービス名などは、それぞれ各社が商標として使用している場合があります。